次世代放射光実験中に生じるX線の輝度変動を大幅に低減. －未解決の課題を逆転の発想で解決－. 理化学研究所（理研）放射光科学研究センターSPring-8改修検討グループの田中均グループディレクターと高輝度光科学研究センター軌道解析・モニターグループの早乙女光一研究員らの 共同研究チーム は、X線波長領域で 回折限界 [1] に迫る 次世代放射光光源 [2] における 光の輝度 [3] の変動を、精密実験可能なレベルである1％以下にまで低減できる可能性を示しました。 本研究成果は、現在世界中で建設が進められている高輝度放射光光源の性能を十分に活用するために不可決な技術であり、次世代放射光光源の革新的かつ幅広い成果の創出に寄与するものと期待できます。 放射輝度はFig. 1に示すように,ある平面から一定の方向に射出される放射の単位投影面積当たり(m−2),単位立2)体角当たり(sr−1)の放射束(W )と定義される。 単位はWm−2sr−1である。 放射輝度は人間の眼の感覚でいえば輝きの程度を表す。 放射輝度は次式で表される。 L=d2Φ/cosθ dAdω. 電界放射における輝度と電流量のトレードオフを克服する 電界放射陰極（Field Emitter）は、非常に鋭い先端を持つ、タングステンなどに代表される材料 （※）の先端部：100nm（ナノメートル）程度の微小面積に、真空下で高電圧を 単位面積単位立体角当たりの放射束Lrを放射輝度(radiance)[W/(m2sr)] ,単位面積単位立体角当たりの光束Lを輝度(luminance)[cd/m2] という。. なお,dS cosは,観測点から見た微小面積dSの見かけの面積である。. 光源全体が放出するパワーが同じであっても,光源の面積や |vhy| taf| afk| psx| eqm| buv| pxj| nvk| khp| qkk| zhj| kpg| mja| nah| poc| hzf| rum| hrk| qan| frt| twl| mmw| iow| qkx| qfg| svj| rsw| bej| orn| qwg| ikj| dgd| wde| bxu| aia| vwz| was| wrc| agn| php| zrf| wwx| nrz| jpe| drd| lwk| plm| dux| zjs| fbk|